日本語フィールド
著者:宮崎則幸,小金丸正明,宍戸信之,坂口智紀,葉山裕,萩原世也題名:パワモジュールの強度信頼性評価試験法に関する考察発表情報:エレクトロニクス実装学会誌 巻: 24 号: 6 ページ: 560-571キーワード:概要:抄録:英語フィールド
Author:Noriyuki MIYAZAKI, Masaaki KOGANEMARU, Nobuyuki SHISHIDO, Tomoki SAKAGUCHI, Yutaka HAYAMA, and Seiya HAGIHARATitle:Discussion on the Test Methodologies for Structural Integrity of Power ModuleAnnouncement information:The Japan Institute of Electronics Packaging Vol: 24 Issue: 6 Page: 560-571