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Linear Dichroism of Topological Surface State Studied by Angle-Resolved Multi-Photon Photoemission Spectroscopy

発表形態：: 一般講演（学術講演を含む）
主要業績：: 主要業績
単著・共著：: 共著
発表年月：: 2015年11月

DOI：
会議属性：: 国際会議（国内開催を含む）
査読：: 無し
リンク情報：

日本語フィールド

著者：

I. Yamamoto, Y. Nogata, J. Azuma, M. Imamura, K. Takahashi and M. Kamada

題名：

Linear Dichroism of Topological Surface State Studied by Angle-Resolved Multi-Photon Photoemission Spectroscopy

発表情報：

The 15th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI-15), Nov.15-20, 2015, International Conference Center Hiroshima, Hiroshima, Japan

キーワード：

概要：

抄録：

英語フィールド

Author：

I. Yamamoto, Y. Nogata, J. Azuma, M. Imamura, K. Takahashi and M. Kamada

Title：

Linear Dichroism of Topological Surface State Studied by Angle-Resolved Multi-Photon Photoemission Spectroscopy

Announcement information:

The 15th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI-15), Nov.15-20, 2015, International Conference Center Hiroshima, Hiroshima, Japan