MF研究者総覧

教員活動データベース

Band alignment of Ga2O3/Si heterojunction interface measured by X-ray photoelectron spectroscopy

発表形態:
原著論文
主要業績:
その他
単著・共著:
共著
発表年月:
2016年09月
DOI:
10.1063/1.4962538
会議属性:
指定なし
査読:
有り
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
Zhengwei Chen, Kazuo Nishihagi , Xu Wang , Katsuhiko Saito , Tooru Tanaka , Mitsuhiro Nishio , Makoto Arita , Qixin Guo
題名:
Band alignment of Ga2O3/Si heterojunction interface measured by X-ray photoelectron spectroscopy
発表情報:
Applied Physics Letters 巻: 109 号: 10 ページ: 102106
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

Author:
Zhengwei Chen, Kazuo Nishihagi , Xu Wang , Katsuhiko Saito , Tooru Tanaka , Mitsuhiro Nishio , Makoto Arita , Qixin Guo
Title:
Band alignment of Ga2O3/Si heterojunction interface measured by X-ray photoelectron spectroscopy
Announcement information:
Applied Physics Letters Vol: 109 Issue: 10 Page: 102106


Copyright © MEDIA FUSION Co.,Ltd. All rights reserved.