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Band alignment of Ga2O3/Si heterojunction interface measured by X-ray photoelectron spectroscopy

発表形態：
原著論文
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2016年09月
DOI：
会議属性：
指定なし
査読：
有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
Zhengwei Chen, Kazuo Nishihagi , Xu Wang , Katsuhiko Saito , Tooru Tanaka , Mitsuhiro Nishio , Makoto Arita , Qixin Guo*
題名：
Band alignment of Ga2O3/Si heterojunction interface measured by X-ray photoelectron spectroscopy
発表情報：
Applied Physics Letters, 109, 102106, 2016.
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
Zhengwei Chen, Kazuo Nishihagi , Xu Wang , Katsuhiko Saito , Tooru Tanaka , Mitsuhiro Nishio , Makoto Arita , Qixin Guo*
Title：
Band alignment of Ga2O3/Si heterojunction interface measured by X-ray photoelectron spectroscopy
Announcement information:
Applied Physics Letters, 109, 102106, 2016.

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