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Improvement of Crystal Quality of ZnTe Epilayers on Sapphire Substrates

発表形態：
一般講演（学術講演を含む）
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2010年04月
DOI：
会議属性：
国内会議
査読：
無し
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
Q.X. Guo, Y. Kadoguchi, Y. Ding, T. Tanaka, M. Nishio, M. Tani, and M. Hangyo
題名：
Improvement of Crystal Quality of ZnTe Epilayers on Sapphire Substrates
発表情報：
大阪大学レーザー研シンポジウム2010－平成21年度共同研究成果報告会－ 2010年4月27日ー28日、大阪大学コンベンションセンター
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
Q.X. Guo, Y. Kadoguchi, Y. Ding, T. Tanaka, M. Nishio, M. Tani, and M. Hangyo
Title：
Improvement of Crystal Quality of ZnTe Epilayers on Sapphire Substrates
Announcement information:

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