日本語フィールド
著者:大坪 優斗、スダーン セイリープ、佐々木 公平、倉又 朗人、嘉数 誠 読み: 大坪 優斗、スダーン セイリープ、佐々木 公平、倉又 朗人、嘉数 誠題名:(011)面方位 HVPEβ型酸化ガリウムショットキーバリアダイオードの高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX線トポグラフィによるキラー欠陥の同定発表情報:15p-E102-16、2023年第70回応用物理学会春季学術講演会、東京、2023年3月15日キーワード:概要:(011)面方位 HVPEβ型酸化ガリウムショットキーバリアダイオードの高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX線トポグラフィによるキラー欠陥の同定抄録:(011)面方位 HVPEβ型酸化ガリウムショットキーバリアダイオードの高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX線トポグラフィによるキラー欠陥の同定英語フィールド
Author:大坪 優斗、スダーン セイリープ、佐々木 公平、倉又 朗人、嘉数 誠Title:(011)面方位 HVPEβ型酸化ガリウムショットキーバリアダイオードの高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX線トポグラフィによるキラー欠陥の同定Announcement information:15p-E102-16、2023年第70回応用物理学会春季学術講演会、東京、2023年3月15日An abstract:(011)面方位 HVPEβ型酸化ガリウムショットキーバリアダイオードの高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX線トポグラフィによるキラー欠陥の同定An abstract:(011)面方位 HVPEβ型酸化ガリウムショットキーバリアダイオードの高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX線トポグラフィによるキラー欠陥の同定