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著者：Sayleap Sdoeung, Kohei Sasaki, Akito Kuramata, Makoto Kasu 読み: Sayleap Sdoeung, Kohei Sasaki, Akito Kuramata, Makoto Kasu題名：高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX 線トポグラフィーによるHVPE (001)型酸化ガリウムSBD のリーク電流の起源になるキラー欠陥の同定発表情報：15p-E102-15、2023年第70回応用物理学会春季学術講演会、東京、2023年3月15日キーワード：概要：高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX 線トポグラフィーによるHVPE (001)型酸化ガリウムSBD のリーク電流の起源になるキラー欠陥の同定抄録：高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX 線トポグラフィーによるHVPE (001)型酸化ガリウムSBD のリーク電流の起源になるキラー欠陥の同定英語フィールド
Author：Sayleap Sdoeung, Kohei Sasaki, Akito Kuramata, Makoto KasuTitle：高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX 線トポグラフィーによるHVPE (001)型酸化ガリウムSBD のリーク電流の起源になるキラー欠陥の同定Announcement information:15p-E102-15、2023年第70回応用物理学会春季学術講演会、東京、2023年3月15日An abstract：高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX 線トポグラフィーによるHVPE (001)型酸化ガリウムSBD のリーク電流の起源になるキラー欠陥の同定An abstract：高感度エミッション顕微鏡とシンクロトロンX 線トポグラフィーによるHVPE (001)型酸化ガリウムSBD のリーク電流の起源になるキラー欠陥の同定