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著者：スダーン セイリープ, シャーマン イスラム, 桝谷聡士, 佐々木公平, 川崎克己, 平林潤, 倉又朗人, 嘉数 誠 読み: スダーン セイリープ, シャーマン イスラム, 桝谷聡士, 佐々木公平, 川崎克己, 平林潤, 倉又朗人, 嘉数 誠題名：高感度エミッション顕微鏡によるHVPE (001)型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定ープローブによる欠陥発表情報：2021年秋季応用物理学会、オンライン、12p-N206-13、2021年9月10-13日。キーワード：概要：高感度エミッション顕微鏡によるHVPE (001)型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定ープローブによる欠陥抄録：高感度エミッション顕微鏡によるHVPE (001)型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定ープローブによる欠陥英語フィールド
Author：スダーン セイリープ, シャーマン イスラム, 桝谷聡士, 佐々木公平, 川崎克己, 平林潤, 倉又朗人, 嘉数 誠Title：高感度エミッション顕微鏡によるHVPE (001)型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定ープローブによる欠陥Announcement information:2021年秋季応用物理学会、オンライン、12p-N206-13、2021年9月10-13日。An abstract：高感度エミッション顕微鏡によるHVPE (001)型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定ープローブによる欠陥An abstract：高感度エミッション顕微鏡によるHVPE (001)型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定ープローブによる欠陥