MF研究者総覧

教員活動データベース

高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
主要業績
単著・共著:
共著
発表年月:
2021年03月
DOI:
会議属性:
国内会議
査読:
無し
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
嘉数 誠, スダーン セイリープ, 佐々木公平, 桝谷聡士, 川崎克己, 平林潤, 倉又朗人 読み: 嘉数 誠, スダーン セイリープ, 佐々木公平, 桝谷聡士, 川崎克己, 平林潤, 倉又朗人
題名:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥
発表情報:
2021年春季応用物理学会19a-Z33-8、オンライン、2021年3月16-19日
キーワード:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥
概要:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥
抄録:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥

英語フィールド

Author:
嘉数 誠, スダーン セイリープ, 佐々木公平, 桝谷聡士, 川崎克己, 平林潤, 倉又朗人
Title:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥
Announcement information:
2021年春季応用物理学会19a-Z33-8、オンライン、2021年3月16-19日
Keyword:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥
An abstract:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥
An abstract:
高感度エミッション顕微鏡によるHVPE(001)beta型酸化ガリウムSBDのリーク電流の起源の同定―微粒子による積層欠陥


Copyright © MEDIA FUSION Co.,Ltd. All rights reserved.