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Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation

発表形態：
一般講演（学術講演を含む）
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2020年11月
DOI：
会議属性：
国際会議（国内開催を含む）
査読：
有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
M. Kasu, S. Sayleap, H. Takaji, K. Sasaki, J. Arima, K. Kawasaki, J. Hirabayashi, A. Kuramata, 読み: M. Kasu, S. Sayleap, H. Takaji, K. Sasaki, J. Arima, K. Kawasaki, J. Hirabayashi, A. Kuramata,
題名：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
発表情報：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
キーワード：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
概要：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
抄録：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation

英語フィールド

Author：
M. Kasu, S. Sayleap, H. Takaji, K. Sasaki, J. Arima, K. Kawasaki, J. Hirabayashi, A. Kuramata,
Title：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
Announcement information:
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
Keyword：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
An abstract：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation
An abstract：
Ultrahigh-Sensitivity Emission Microscopy Study of β-Ga2O3 Schottky Barrier Diodes in Operation

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