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放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察

発表形態：
招待講演・特別講演（学会シンポジウム等での講演を含む）
主要業績：
主要業績
単著・共著：
単著
発表年月：
2020年12月
DOI：
会議属性：
国内会議
査読：
無し
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
嘉数 誠 読み: 嘉数 誠
題名：
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察
発表情報：
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察
キーワード：
概要：
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察
抄録：
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察

英語フィールド

Author：
嘉数 誠
Title：
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察
Announcement information:
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察
An abstract：
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察
An abstract：
放射光X線トポグラフィーによる次世代パワー半導体酸化ガリウムの欠陥の観察

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