MF研究者総覧

教員活動データベース

詳細

RF measurements and analysis for submicron-gate diamond MOSFETs fabricated on heteroepitaxial diamonds,

発表形態：
一般講演（学術講演を含む）
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2019年09月
DOI：
会議属性：
国際会議（国内開催を含む）
査読：
有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
M. Kasu, T. Kamogawa, N. C. Saha, T. Oishi, S. -W. Kim 読み: M. Kasu, T. Kamogawa, N. C. Saha, T. Oishi, S. -W. Kim
題名：
RF measurements and analysis for submicron-gate diamond MOSFETs fabricated on heteroepitaxial diamonds,
発表情報：
30th International Conference on Diamond and Related Materials (ICDCM2019), Seville, Spain, Sep. 7-12, 2019.
キーワード：
diamond
概要：
ダイヤモンド素子を作製した。
抄録：
ダイヤモンド素子を作製した。

英語フィールド

Author：
M. Kasu, T. Kamogawa, N. C. Saha, T. Oishi, S. -W. Kim
Title：
RF measurements and analysis for submicron-gate diamond MOSFETs fabricated on heteroepitaxial diamonds,
Announcement information:
30th International Conference on Diamond and Related Materials (ICDCM2019), Seville, Spain, Sep. 7-12, 2019.
Keyword：
ダイヤモンド
An abstract：
diamind devices
An abstract：
diamind devices

Copyright © MEDIA FUSION Co.,Ltd. All rights reserved.