MF研究者総覧

教員活動データベース

詳細

Crystal defects which relate with leakage current of HVPE (001) b-Ga2O3 Schottky barrier diodes

発表形態：
一般講演（学術講演を含む）
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2018年11月
DOI：
会議属性：
国際会議（国内開催を含む）
査読：
有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
M. Kasu, E. Katagiri, S. Fujita, K. Sasaki, K. Kawasaki, J. Hirabayashi, A. Kuramata, T. Oishi
題名：
Crystal defects which relate with leakage current of HVPE (001) b-Ga2O3 Schottky barrier diodes
発表情報：
Materials Research Society 2018 Fall Meeting
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
M. Kasu, E. Katagiri, S. Fujita, K. Sasaki, K. Kawasaki, J. Hirabayashi, A. Kuramata, T. Oishi
Title：
Crystal defects which relate with leakage current of HVPE (001) b-Ga2O3 Schottky barrier diodes
Announcement information:
Materials Research Society 2018 Fall Meeting

Copyright © MEDIA FUSION Co.,Ltd. All rights reserved.