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Continuous operation (14 h) and stress tests for H-diamond field-effect transistors

発表形態：
その他講演
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2017年05月
DOI：
会議属性：
国際会議（国内開催を含む）
査読：
有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
M. Kasu, K. Funaki, Y. Ishimatsu, S. Masuya, T. Oshima, and T. Oishi
題名：
Continuous operation (14 h) and stress tests for H-diamond field-effect transistors
発表情報：
11th Conference on New Diamond and Nano Carbons (NDNC2017)
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
M. Kasu, K. Funaki, Y. Ishimatsu, S. Masuya, T. Oshima, and T. Oishi
Title：
Continuous operation (14 h) and stress tests for H-diamond field-effect transistors
Announcement information:
11th Conference on New Diamond and Nano Carbons (NDNC2017)

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