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Determination of stacking faults in an (111) high pressure/high temperature (HP/HT) diamond single crystals with extremely low defect density via synchrotron X-ray topography

発表形態：: 一般講演（学術講演を含む）
主要業績：: 主要業績
単著・共著：: 共著
発表年月：: 2016年09月

DOI：
会議属性：: 国際会議（国内開催を含む）
査読：: 有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：

S. Masuya , T. Moribayashi , K. Hanada , H. Sumiya, M. Kasu

題名：

Determination of stacking faults in an (111) high pressure/high temperature (HP/HT) diamond single crystals with extremely low defect density via synchrotron X-ray topography

発表情報：

27th International Conference on Diamond and Carbon Materials 2016, Sep 4-8, Monpelie

キーワード：

概要：

抄録：

英語フィールド

Author：

S. Masuya , T. Moribayashi , K. Hanada , H. Sumiya, M. Kasu

Title：

Determination of stacking faults in an (111) high pressure/high temperature (HP/HT) diamond single crystals with extremely low defect density via synchrotron X-ray topography

Announcement information:

27th International Conference on Diamond and Carbon Materials 2016, Sep 4-8, Monpelie