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シンクロトロンX線トポグラフィーによる低欠陥密度高温高圧合成ダイヤモンド(111)単結晶の積層欠陥観察

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
主要業績
単著・共著:
共著
発表年月:
2016年03月
DOI:
会議属性:
国内会議
査読:
無し
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
桝谷聡士、森林朋也 、花田賢志、角谷 均、嘉数 誠
題名:
シンクロトロンX線トポグラフィーによる低欠陥密度高温高圧合成ダイヤモンド(111)単結晶の積層欠陥観察
発表情報:
応用物理学会春季講演会、2016年3月19~22日、東京
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

Author:
桝谷聡士、森林朋也 、花田賢志、角谷 均、嘉数 誠
Title:
シンクロトロンX線トポグラフィーによる低欠陥密度高温高圧合成ダイヤモンド(111)単結晶の積層欠陥観察
Announcement information:
応用物理学会春季講演会、2016年3月19~22日、東京


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