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Synchrotron X-ray topography observation of stacking faults in HPHT diamond single crystal

発表形態：: 一般講演（学術講演を含む）
主要業績：: 主要業績
単著・共著：: 共著
発表年月：: 2016年03月

DOI：
会議属性：: 国際会議（国内開催を含む）
査読：: 有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：

S. Masuya, K. Hanada, T. Uematsu, T. Moribayashi, M. Kasu, H. Sumiya

題名：

Synchrotron X-ray topography observation of stacking faults in HPHT diamond single crystal

発表情報：

8th International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials / 9th International Conference on Plasma-Nano Technology & Science (ISPlasma2016 / IC-PLANTS2016) March 6-10, 2016 Nagoya

キーワード：

概要：

抄録：

英語フィールド

Author：

S. Masuya, K. Hanada, T. Uematsu, T. Moribayashi, M. Kasu, H. Sumiya

Title：

Synchrotron X-ray topography observation of stacking faults in HPHT diamond single crystal

Announcement information: