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Determination of the type of stacking faults in single-crystal high-purity diamond with a low dislocation density of < 50 cm−2 by synchrotron X-ray topography

発表形態：: 原著論文
主要業績：: 主要業績
単著・共著：: 共著
発表年月：: 2016年02月

DOI：
会議属性：: 指定なし
査読：: 有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：

S. Masuya, K. Hanada, T. Uematsu, T. Moribayashi, H. Sumiya, and M. Kasu,

題名：

Determination of the type of stacking faults in single-crystal high-purity diamond with a low dislocation density of < 50 cm−2 by synchrotron X-ray topography

発表情報：

Japanese Journal of Applied Physics 巻: 55 号: 4 ページ: 040303

キーワード：

概要：

抄録：

英語フィールド

Author：

S. Masuya, K. Hanada, T. Uematsu, T. Moribayashi, H. Sumiya, and M. Kasu,

Title：

Determination of the type of stacking faults in single-crystal high-purity diamond with a low dislocation density of < 50 cm−2 by synchrotron X-ray topography

Announcement information:

Japanese Journal of Applied Physics Vol: 55 Issue: 4 Page: 040303