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Diamond MOS Interface Properties Studied by XPS/UPS/XANES and C-V Measurements

発表形態：
一般講演（学術講演を含む）
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2014年11月
DOI：
会議属性：
国際会議（国内開催を含む）
査読：
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
M. Kasu, K. Hirama, K. Harada, M. Imamura, K. Takahashi, K. Shiraishi
題名：
Diamond MOS Interface Properties Studied by XPS/UPS/XANES and C-V Measurements
発表情報：
The 7th International Symposium on Surface Science, Matsue, November 2 - 6, 2014
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
M. Kasu, K. Hirama, K. Harada, M. Imamura, K. Takahashi, K. Shiraishi
Title：
Diamond MOS Interface Properties Studied by XPS/UPS/XANES and C-V Measurements
Announcement information:
The 7th International Symposium on Surface Science, Matsue, November 2 - 6, 2014

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