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Device Operation Analysis of Diamond MOSFET Obtained by Capacitance–Voltage Characteristics

発表形態：
一般講演（学術講演を含む）
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2014年09月
DOI：
会議属性：
国際会議（国内開催を含む）
査読：
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
K. Harada, K. K. Hirama, T. Oishi, M. Kasu
題名：
Device Operation Analysis of Diamond MOSFET Obtained by Capacitance–Voltage Characteristics
発表情報：
International Conference on Diamond and Related Carbons 2014 (ICDCM2014), Madrid, September 7 - 11, 2014
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
K. Harada, K. Hirama, T. Oishi, M. Kasu
Title：
Device Operation Analysis of Diamond MOSFET Obtained by Capacitance–Voltage Characteristics
Announcement information:
International Conference on Diamond and Related Carbons 2014 (ICDCM2014), Madrid, September 7 - 11, 2014

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