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Device Operation Analysis of Diamond MOSFET Obtained by Capacitance–Voltage Characteristics

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
主要業績
単著・共著:
共著
発表年月:
2014年09月
DOI:
会議属性:
国際会議(国内開催を含む)
査読:
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
K. Harada, K. K. Hirama, T. Oishi, M. Kasu
題名:
Device Operation Analysis of Diamond MOSFET Obtained by Capacitance–Voltage Characteristics
発表情報:
International Conference on Diamond and Related Carbons 2014 (ICDCM2014), Madrid, September 7 - 11, 2014
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

Author:
K. Harada, K. Hirama, T. Oishi, M. Kasu
Title:
Device Operation Analysis of Diamond MOSFET Obtained by Capacitance–Voltage Characteristics
Announcement information:
International Conference on Diamond and Related Carbons 2014 (ICDCM2014), Madrid, September 7 - 11, 2014


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