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Thick diamond layers angled by polishing to reveal defect and impurity depth profiles

発表形態：
原著論文
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2008年
DOI：
会議属性：
指定なし
査読：
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
A. Tallaire, M. Kasu, and K. Ueda
題名：
Thick diamond layers angled by polishing to reveal defect and impurity depth profiles
発表情報：
Diamond and Related Materials 巻: 17 ページ: 506-510
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
A. Tallaire, M. Kasu, and K. Ueda
Title：
Thick diamond layers angled by polishing to reveal defect and impurity depth profiles
Announcement information:
Diamond and Related Materials Vol: 17 Page: 506-510

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