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照度差ステレオ法を用いた電子部品の外観検査の試み
発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
主要業績
単著・共著:
共著
発表年月:
2009年09月
DOI:
会議属性:
国内会議
査読:
無し
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日本語フィールド
著者:
吉野博彦,古川達也,福本尚生 読み: H. Yoshino, T. Furukawa and H. Fukumoto
題名:
照度差ステレオ法を用いた電子部品の外観検査の試み
発表情報:
第62回電気関係学会九州支部連合大会,01-2A-06,CD-ROM
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抄録:
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