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Micro-Raman study of hexagonal InN thin films grown by reactive sputtering on GaAs

発表形態：
原著論文
主要業績：
主要業績
単著・共著：
共著
発表年月：
2004年
DOI：
会議属性：
査読：
リンク情報：

日本語フィールド

著者：
Chen, J / Shen, W. Z / Wang, J. B / Ogawa, H / Guo, Q. X
題名：
Micro-Raman study of hexagonal InN thin films grown by reactive sputtering on GaAs
発表情報：
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH 巻: 262 号: 1/4 ページ: 435-441
キーワード：
概要：
抄録：

英語フィールド

Author：
Chen, J / Shen, W. Z / Wang, J. B / Ogawa, H / Guo, Q. X
Title：
Micro-Raman study of hexagonal InN thin films grown by reactive sputtering on GaAs
Announcement information:
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH Vol: 262 Issue: 1/4 Page: 435-441

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