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Improvement of Crystal Quality of ZnTe Epilayers on Sapphire Substrates

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
主要業績
単著・共著:
共著
発表年月:
2010年04月
DOI:
会議属性:
国内会議
査読:
無し
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
Q.X. Guo, Y. Kadoguchi, Y. Ding, T. Tanaka, M. Nishio, M. Tani, and M. Hangyo
題名:
Improvement of Crystal Quality of ZnTe Epilayers on Sapphire Substrates
発表情報:
大阪大学レーザー研シンポジウム2010-平成21年度共同研究成果報告会- 2010年4月27日ー28日、大阪大学コンベンションセンター
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

Author:
Q.X. Guo, Y. Kadoguchi, Y. Ding, T. Tanaka, M. Nishio, M. Tani, and M. Hangyo
Title:
Improvement of Crystal Quality of ZnTe Epilayers on Sapphire Substrates
Announcement information:


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