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Temperature Dependence of Refractive Index in InN Thin Films Grown by Magnetron Sputtering

著者：

H. P. Zhou, W. Z. Shen, H. Ogawa, and Q.X. Guo

題名：

発表情報：

Journal of Applied Physics 号: 96 ページ: 3199-3205

キーワード：

概要：

抄録：

Author：

H. P. Zhou, W. Z. Shen, H. Ogawa, and Q.X. Guo

Title：

Temperature Dependence of Refractive Index in InN Thin Films Grown by Magnetron Sputtering

Announcement information:

Journal of Applied Physics Issue: 96 Page: 3199-3205