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ガス飛跡検出器の性能評価および較正システムに用いる紫外レーザーによるガス分子電離過程の研究

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
その他
単著・共著:
共著
発表年月:
2015年09月
DOI:
会議属性:
国内会議
査読:
無し
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
池松克昌、杉山晃、房安貴弘、小川智久、川口和彦、高橋徹、川田真一、小林誠、藤井恵介、JunpingTian, 松田武、渡部隆史、加藤幸弘、R.D,Settles
題名:
ガス飛跡検出器の性能評価および較正システムに用いる紫外レーザーによるガス分子電離過程の研究
発表情報:
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

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