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Blocking positive ion backflow using GEM gate:experiment and simulations

著者：

P.Gros, K.Fujii, T.Fusayasu, K.Kato, S.Kawada, M.Kobayashi, T.Matsuda, O.Nitoh, A.Sugiyama, T.Tkakahashi, J.Tian, T.Watanabe, R.Yonamine

題名：

発表情報：

Journal of Instrumentation 巻: 8 ページ: C11023

キーワード：

MPGD, ion gate, TPC

概要：

抄録：

Author：

P.Gros, K.Fujii, T.Fusayasu, K.Kato, S.Kawada, M.Kobayashi, T.Matsuda, O.Nitoh, A.Sugiyama, T.Tkakahashi, J.Tian, T.Watanabe, R.Yonamine

Title：

Blocking positive ion backflow using GEM gate:experiment and simulations

Announcement information:

Journal of Instrumentation Vol: 8 Page: C11023

Keyword：

MPGD, ion gate, TPC