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後方散乱電子回折像(EBSD)を用いたCr-Mo-V鋳鋼のクリープ損傷評価モデルの構築

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
その他
単著・共著:
共著
発表年月:
2007年10月
DOI:
会議属性:
国内会議
査読:
無し
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
中谷祐二郎, 田中明, 石渡裕, 野口裕久, 只野裕一
題名:
後方散乱電子回折像(EBSD)を用いたCr-Mo-V鋳鋼のクリープ損傷評価モデルの構築
発表情報:
M& M2007材料力学カンファレンス論文集 ページ: 256-257
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

Author:
Title:
Announcement information:
Page: 256-257


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