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Microstructural Characterization of β-Ga2O3 Crystals by Photoluminescence Mapping Measurements

発表形態：: 一般講演（学術講演を含む）
主要業績：: その他
単著・共著：: 共著
発表年月：: 2022年10月

DOI：
会議属性：: 国際会議（国内開催を含む）
査読：: 有り
リンク情報：

日本語フィールド

著者：

K. Shoji, M. Nakanishi, M. Kasu, T. Yamaguchi, T. Honda, K. Sasaki, A. Kuramata, and T. Onuma 読み: K. Shoji, M. Nakanishi, M. Kasu, T. Yamaguchi, T. Honda, K. Sasaki, A. Kuramata, and T. Onuma

題名：

Microstructural Characterization of β-Ga2O3 Crystals by Photoluminescence Mapping Measurements

発表情報：

Pos 2-04, The 4th International Workshop on Gallium Oxide and Related Materials (IWGO 2022) Nanano, October 23 – 27, 2022

キーワード：

概要：

Microstructural Characterization of β-Ga2O3 Crystals by Photoluminescence Mapping Measurements

抄録：

Microstructural Characterization of β-Ga2O3 Crystals by Photoluminescence Mapping Measurements

英語フィールド

Author：

K. Shoji, M. Nakanishi, M. Kasu, T. Yamaguchi, T. Honda, K. Sasaki, A. Kuramata, and T. Onuma

Title：

Microstructural Characterization of β-Ga2O3 Crystals by Photoluminescence Mapping Measurements

Announcement information:

Pos 2-04, The 4th International Workshop on Gallium Oxide and Related Materials (IWGO 2022) Nanano, October 23 – 27, 2022

An abstract：

Microstructural Characterization of β-Ga2O3 Crystals by Photoluminescence Mapping Measurements

An abstract：

Microstructural Characterization of β-Ga2O3 Crystals by Photoluminescence Mapping Measurements