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Al2O3/NO2ホールドープダイヤモンドMOS構造のC-V測定におけるゲート金属の影響

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
主要業績
単著・共著:
共著
発表年月:
2018年03月
DOI:
会議属性:
国内会議
査読:
無し
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
サハ ニロイ チャンドラ、嘉数 誠
題名:
Al2O3/NO2ホールドープダイヤモンドMOS構造のC-V測定におけるゲート金属の影響
発表情報:
応用物理学会春季学術講演会
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

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