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Determination of stacking faults in an (111) high pressure/high temperature (HP/HT) diamond single crystals with extremely low defect density via synchrotron X-ray topography

発表形態:
一般講演(学術講演を含む)
主要業績:
主要業績
単著・共著:
共著
発表年月:
2016年09月
DOI:
会議属性:
国際会議(国内開催を含む)
査読:
有り
リンク情報:

日本語フィールド

著者:
S. Masuya , T. Moribayashi , K. Hanada , H. Sumiya, M. Kasu
題名:
Determination of stacking faults in an (111) high pressure/high temperature (HP/HT) diamond single crystals with extremely low defect density via synchrotron X-ray topography
発表情報:
27th International Conference on Diamond and Carbon Materials 2016, Sep 4-8, Monpelie
キーワード:
概要:
抄録:

英語フィールド

Author:
S. Masuya , T. Moribayashi , K. Hanada , H. Sumiya, M. Kasu
Title:
Determination of stacking faults in an (111) high pressure/high temperature (HP/HT) diamond single crystals with extremely low defect density via synchrotron X-ray topography
Announcement information:
27th International Conference on Diamond and Carbon Materials 2016, Sep 4-8, Monpelie


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