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ZnTeO薄膜の分子線エピタキシャル成長と評価

著者：

長尾康弘, 草場修平, 持永智洋, 田中　徹, 斉藤勝彦, 郭　其新, 西尾光弘, Kin Man Yu, Wladek Walukiewicz

題名：

発表情報：

平成23年度第64回電気関係学会九州支部連合大会, 佐賀大学, 平成23年9月26日, 13-1A-03.

キーワード：

概要：

抄録：

Author：

長尾康弘, 草場修平, 持永智洋, 田中　徹, 斉藤勝彦, 郭　其新, 西尾光弘, Kin Man Yu, Wladek Walukiewicz

Title：

ZnTeO薄膜の分子線エピタキシャル成長と評価

Announcement information:

平成23年度第64回電気関係学会九州支部連合大会, 佐賀大学, 平成23年9月26日, 13-1A-03.